波长色散X射线荧光光谱仪能够提供元素的定性和定量分析结果。通过比较样品荧光信号与已知标准样品的对比，可以确定样品中存在的元素及其相对含量。这种技术在材料分析、环境监测、地质学、考古学和金属检测等领域得到广泛应用。

波长色散X射线荧光光谱仪是一种用于分析材料中元素组成的仪器。它基于X射线的特性，通过激发样品产生荧光，并测量不同元素所发射的特定波长的荧光信号来鉴定和定量样品中的元素。

波长色散X射线荧光光谱仪是一种用于分析物质成分的仪器。它利用X射线的特性来测量样品中的元素含量。

日本理学波长色散X射线荧光光谱仪是一种用于分析物质组成的仪器。它的原理基于X射线的特性和样品中元素的能级结构。

波长色散X射线荧光光谱仪是一种科学仪器，用于分析物质中的化学元素。它基于X射线荧光原理，通过照射样品并测量由样品发出的特定波长的荧光辐射来确定样品中存在的元素及其相对含量。

日本理学波长色散型X射线荧光光谱仪ZSX Primus具有良好的性能和灵活性，能够分析最复杂的样品，它具有30微米的管子，这是业内较薄的终端窗口管，用于检测极低的光谱元素（低Z）。结合zui先jin的测试包检测均匀性和包涵体，ZSX Primus可轻松对样品进行详细调查，以提供其他分析方法不易获得的分析见解。可用的多点分析还有助于消除不均匀材料中的采样误差。

波长色散X射线荧光光谱仪在材料科学、地质学、环境监测、金属分析等领域得到广泛应用。它提供了一种快速、准确、无损的方法来确定样品中各种元素的含量，帮助科学家和工程师进行研究和质量控制。

波长色散X射线荧光光谱仪WDA-3650用于薄膜评估的X射线荧光分析仪同时对各种薄膜的薄膜厚度和成分进行无损、非接触式分析。这是一种波长色散X射线荧光光谱仪（WD-XRF），可以以非破坏性和非接触方式同时分析尺寸达~200mm的晶圆上各种薄膜的厚度和组成。