波長色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評估的X射線熒光分析儀同時對各種薄膜的薄膜厚度和成分進行無損、非接觸式分析。這是一種波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF），可以以非破壞性和非接觸方式同時分析尺寸達~200mm的晶圓上各種薄膜的厚度和組成。

日本理學 ZSX Primus 400 連續波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設計。

波長色散X射線熒光光譜儀是一種用于分析物質成分的儀器。它利用X射線與物質相互作用產生的特征性熒光輻射進行分析。

綜合測試儀內置的分析儀/發生器模塊功能非常強大，可滿足多種應用需求，包括羅德與施瓦茨公司提出的及用戶通用或特定的應用。

網絡分析儀能為無線通信、有線電視、汽車電子、教育等行業提供基本的矢量網絡分析功能；它是為了縮短調諧和測試時間而設計的，因而能通過提高吞吐量來提高用戶的測試效率。它具有行業標準的ENA的核心功能，其中包括許多易用的特性，并且得到了優化，可進行高效的測量并具有很高的可靠性。此外，可選的電子校準件(ECal)能極大的簡化校準過程。

手持式拉曼光譜儀TruScan RM 分析儀包括的光學系統以及獲得的多變量殘留分析，采用兩個光譜預處理選項為材料鑒別提供有效的化學計量學解決方案。該分析儀的無損瞄準式采樣的原則有利于各種化合物（包括基于纖維素的產品）的快速驗證。

德國斯派克X熒光光譜儀采用與斯派克公司高性能實驗室用臺式熒光光譜儀相同的小型低能量的X射線管，保證了準確的離子激發效果。特殊開發的SDD檢測器，數據采集速度10倍于傳統的檢測器，提高了儀器的分析靈活性。

斯派克 X熒光光譜儀 XEPOS技術參數內部采用高性能部件，可獲得好的靈敏度和準確性。采用偏振次級靶以確保*佳激發，12位樣品自動交換器，預先安裝好的應用軟件包和智能軟件模塊，使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。